Microscope MET FEI Tecnaï G2

¤ Présentation
¤ Caractéristiques de l’appareil
¤ Exemples de clichés

 

Présentation

Ce microscope est dédié à l’analyse des matériaux par microscopie électronique conventionelle et analytique : imagerie champ clair-champ sombre, weak-beam, analyse par spectroscopie X à dispersion d’énergie (EDS). Grâce au dispositif STEM la chimie des matériaux peut être sondée localement avec une résolution spatiale de quelques nanomètres.

L’appareil est équipé d’une pièce polaire large gap (lentille objectif Twin) permettant l’étude 3D des matériaux par tomographie électronique.

 

Caractéristiques de l’appareil

Emission
Tension d’accélération : de 80 kV à 200 kV
Canon thermoélectronique avec filament LaB6

Résolution spatiale : 0,27 nm

Détecteurs
Caméra CCD TVIPS 1k*1k
EDS SDD Oxford XMax80
Etage STEM avec détecteur BF-DF

Porte-objets 
Simple tilt standard, simple tilt ± 70° pour la tomographie électronique, double tilt Béryllium

 

Exemples de clichés

Cliché de diffraction de la structure Ti3SiC2 en axe de zone [001]

Bulles octaédriques dans de l’UO2 implanté Kr et recuit. Observation en axe de zone <001>

Séparation de phase dans un verre peralumineux au Nd. Image STEM BF

En haut à droite: Profil de concentration mesuré au centre le long de la nanostructure (ligne rouge pointillé)
En bas: cartographies chimiques de la nanostructure.
(M. Naffouti et al., Nanotechnology 27 (2016) 305602)