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L’imagerie par spectrométrie de masse d’ions secondaires TOF-SIMS, en 3-D et à moins de 1 micromètre : principes et applications, de l’étude de métabolites de bois tropicaux aux tableaux anciens

17 janvier 2020 @ 10h30 - 12h00

Conférencier : Brunelle Alain – Sorbonne Université

Détails

Date :
17 janvier 2020
Heure :
10h30 - 12h00
Catégorie d’évènement:
Étiquettes évènement :

Lieu

211DLV

Organisateur

Laurence CHARLES
E-mail :
laurence.charles@univ-amu.fr