Centre Pluridisciplinaire de Microscopie Electronique et de Microanalyse

Le CP2M est doté de moyens performants en Microscopie électronique et Microanalyse. A ces moyens sont associés des équipements de préparation d'échantillons, de simulation et de traitement d'images. L’ensemble des équipements est mis à la disposition d'une large communauté scientifique des secteurs public et industriel.

Nos compétences

Le service a pour mission de gérer les microscopes électroniques mutualisés de la plateforme, de participer au développement des activités de recherche liées à la caractérisation structurale et chimique des matériaux à l’échelle micro ou nanométrique et de former les nouveaux utilisateurs. Les domaines d’activité de la plateforme s’articulent autour de problématiques en Sciences des Matériaux essentiellement.

La structure est composée d’un personnel qualifié issu d’Aix Marseille Université. Les demandes d’analyse et de partenariat seront adressées directement aux responsables des appareils qui pourront apporter leur expertise sur la faisabilité de la demande, l’utilisation des équipements et l’interprétation des résultats. Les utilisateurs peuvent également accéder aux équipements de façon autonome après avoir été formés par les personnels de la plateforme.

Nos techniques

Le service CP2M rassemble des ressources en :

Dual Beam FIB (FEI Helios 600 NanoLab)

La station Dual beam FIB (FEI Helios 600 NanoLab) est utilisée pour la préparation par micro-usinage ionique de lames minces pour l’observation au MET. En savoir plus...

MET FEI Tecnaï G2

Ce microscope est dédié à l’analyse des matériaux par microscopie électronique conventionnelle et analytique : imagerie champ clair-champ sombre, weak-beam, analyse par spectroscopie X à dispersion d’énergie (EDS). En savoir plus...

MET FEI Titan 80-300

Le Titan offre une résolution spatiale de 0.1nm grâce au correcteur d 'aberrations. Il est équipé avec un filtre de perte d'énergie qui permet d’acquérir des cartographies chimiques et des spectres de perte d'énergie avec une résolution spatiale autour de 1nm. En savoir plus ...

MEB Zeiss GeminiSEM 500

Le microscope électronique à balayage ZEISS de haute résolution, modèle Gemini 500, permet l’imagerie des matériaux conducteurs et isolants à l’échelle nanométrique, même en mode basse tension et pression variable. En savoir plus...

Notre équipe

Martiane CABIE
IGR - AMU
Tél : 0491 28 2786
Email
Andrea CAMPOS
IGR - AMU
Tél : 0491 28 9116
Email
Christian DOMINICI
IGR - AMU
Tél : 0491 28 8928
Email
Thomas NEISIUS
IGR - AMU
Tél : 0491 28 8425 / 8427
Email
Jean-Baptiste PAPA
TCN - CNRS
Gestion administrative & financière
Tél : 0491 28 8336
Email

 

Adresse et accès

Service 221, Campus Scientifique de Saint Jérôme
13397 Marseille cedex 20

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