Le CP2M est doté de moyens performants en Microscopie électronique et Microanalyse. A ces moyens sont associés des équipements de préparation d'échantillons, de simulation et de traitement d'images. L’ensemble des équipements est mis à la disposition d'une large communauté scientifique des secteurs public et industriel.
Le service a pour mission de gérer les microscopes électroniques mutualisés de la plateforme, de participer au développement des activités de recherche liées à la caractérisation structurale et chimique des matériaux à l’échelle micro ou nanométrique et de former les nouveaux utilisateurs. Les domaines d’activité de la plateforme s’articulent autour de problématiques en Sciences des Matériaux essentiellement.
La structure est composée d’un personnel qualifié issu d’Aix Marseille Université. Les demandes d’analyse et de partenariat seront adressées directement aux responsables des appareils qui pourront apporter leur expertise sur la faisabilité de la demande, l’utilisation des équipements et l’interprétation des résultats. Les utilisateurs peuvent également accéder aux équipements de façon autonome après avoir été formés par les personnels de la plateforme.
La station Dual beam FIB (FEI Helios 600 NanoLab) est utilisée pour la préparation par micro-usinage ionique de lames minces pour l’observation au MET. En savoir plus...
Ce microscope est dédié à l’analyse des matériaux par microscopie électronique conventionnelle et analytique : imagerie champ clair-champ sombre, weak-beam, analyse par spectroscopie X à dispersion d’énergie (EDS). En savoir plus...
Le microscope électronique à balayage ZEISS de haute résolution, modèle Gemini 500, permet l’imagerie des matériaux conducteurs et isolants à l’échelle nanométrique, même en mode basse tension et pression variable. En savoir plus...