L’imagerie par spectrométrie de masse d’ions secondaires TOF-SIMS, en 3-D et à moins de 1 micromètre : principes et applications, de l’étude de métabolites de bois tropicaux aux tableaux anciens
Conférencier : Brunelle Alain – Sorbonne Université
Conférencier : Brunelle Alain – Sorbonne Université